XUANCAI 落地式X射線衍射儀是研究物質(zhì)內(nèi)部微觀結(jié)構(gòu)的一種大型的高功率分析儀器，其專為在環(huán)境條件下和非環(huán)境條件下，對從粉末、非晶和多晶材料到外延多層薄膜等各種材料進(jìn)行結(jié)構(gòu)表征而設(shè)計(jì)，外型美觀、易于操作、用戶友好、使用壽命長、智能化、檢測精度高，是材料研究、大學(xué)及研究院所、建筑材料、金屬、礦物、塑料制品、醫(yī)藥品和半導(dǎo)體等領(lǐng)域的理想分析工具。

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產(chǎn)品詳情

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儀器種類	多晶衍射儀

XRD-LabStation-5落地式X射線衍射儀是研究物質(zhì)內(nèi)部微觀結(jié)構(gòu)的一種大型的高功率分析儀器，其專為在環(huán)境條件下和非環(huán)境條件下，對從粉末、非晶和多晶材料到外延多層薄膜等各種材料進(jìn)行結(jié)構(gòu)表征而設(shè)計(jì)，外型美觀、易于操作、用戶友好、使用壽命長、智能化、檢測精度高，是材料研究、大學(xué)及研究院所、建筑材料、金屬、礦物、塑料制品、醫(yī)藥品和半導(dǎo)體等領(lǐng)域的理想分析工具。

主要應(yīng)用：

定性相分析和定量相分析

晶體結(jié)構(gòu)解析

晶體取向分析、金屬材料織構(gòu)、殘余應(yīng)力分析等

結(jié)構(gòu)測定和精修、微應(yīng)變和微晶尺寸分析、微區(qū)樣品的分析

非常規(guī)條件下晶體結(jié)構(gòu)變化（高溫、低溫條件下）

薄膜樣品分析，包括薄膜物相、多層膜厚度、表面粗糙度，電荷密度

使用優(yōu)勢